洋書 Springer Paperback Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing)

¥20846

(税込) 送料込み

40
コメント

商品の説明


*** We ship internationally so do not use a package forwarding service. We cannot ship to a package forwarding company address because of the Japanese customs regulation. If it is shipped and customs office does not let the package go we do not make a refund.

【注意事項】
*** 特に注意してください。 ***
・個人ではない法人・団体名義での購入はできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。
・お名前にカタカナが入っている場合法人である可能性が高いため当店システムから自動保留します。カタカナで記載が必要な場合はカタカナ変わりローマ字で記載してください。
・お名前またはご住所が法人・団体名義(XX株式会社等)、商店名などを含めている場合、または電話番号が個人のものではない場合、税関から法人名義でみなされますのでご注意ください。
・転送サービス会社への発送もできません。この場合税関で滅却されてもお客様負担になりますので御了承願います。
***
・注文後品切れや価格変動でキャンセルされる場合がございますので予めご了承願います。
・当店でご購入された商品は、原則として、「個人輸入」としての取り扱いになり、すべてニュージャージからお客様のもとへ直送されます。
・ご注文後、30営業日以内(通常2~3週間)に配送手続きをいたします。配送作業完了後、2週間程度でのお届けとなります。
・まれに商品入荷状況や国際情勢、運送、通関事情により、お届けが2ヶ月までかかる場合がありますのでお急ぎの場合は注文をお控えください。
・個人輸入される商品は、すべてご注文者自身の「個人使用・個人消費」が前提となりますので、ご注文された商品を第三者へ譲渡・転売することは法律で禁止されております。
・関税・消費税が課税される場合があります。詳細はをご確認下さい。


20846円洋書 Springer Paperback Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing)本・雑誌・コミック洋書An Introduction to Error Analysis: The Study of Uncertainties in
Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing  Book 41) See more 2011 Edition2011 Edition

Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing Book 41) See more 2011 Edition2011 Edition


Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing  Book 41) See more 2011 Edition2011 Edition

Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing Book 41) See more 2011 Edition2011 Edition


Amazon.com: Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in

Amazon.com: Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in


Weakness Monitors for Fail-Aware Systems | SpringerLink

Weakness Monitors for Fail-Aware Systems | SpringerLink


Frontiers in Electronic Testing | Book series home

Frontiers in Electronic Testing | Book series home


Programming Heterogeneous Hardware Via Managed Runtime Systems

Programming Heterogeneous Hardware Via Managed Runtime Systems


Amazon.co.jp: Timing Performance of Nanometer Digital Circuits

Amazon.co.jp: Timing Performance of Nanometer Digital Circuits


Frontiers in Electronic Testing | Book series home

Frontiers in Electronic Testing | Book series home


紀伊國屋書店BookWeb Pro 基本図書通信(洋書)

紀伊國屋書店BookWeb Pro 基本図書通信(洋書)


An Introduction to Error Analysis: The Study of Uncertainties in

An Introduction to Error Analysis: The Study of Uncertainties in


Buy now!

Buy now!


Digital Systems Testing and Testable Design | PDF

Digital Systems Testing and Testable Design | PDF


紀伊國屋書店BookWeb Pro 基本図書通信(洋書)

紀伊國屋書店BookWeb Pro 基本図書通信(洋書)


PanSIG 2022 Journal Galley 6.9.23.indb

PanSIG 2022 Journal Galley 6.9.23.indb


Search records | 東京工業大学附属図書館 蔵書検索

Search records | 東京工業大学附属図書館 蔵書検索


YELLOW SALE IN MATHEMATICS 2023

YELLOW SALE IN MATHEMATICS 2023


洋書 Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation オンライン

洋書 Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation オンライン


Additive Manufacturing Technology | Book series home

Additive Manufacturing Technology | Book series home


Modeling Attack-Defense Trees' Countermeasures Using Continuous

Modeling Attack-Defense Trees' Countermeasures Using Continuous


紀伊國屋書店BookWeb Pro 基本図書通信(洋書)

紀伊國屋書店BookWeb Pro 基本図書通信(洋書)


Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, Seventh Edition

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference, Seventh Edition


Reliable assessment of uncertainty for appliance recognition in

Reliable assessment of uncertainty for appliance recognition in


洋書新刊案内

洋書新刊案内


Error Analysis: A comprehensive bibliography | Bernd Spillner

Error Analysis: A comprehensive bibliography | Bernd Spillner


Buy now!

Buy now!


SYSTEMology: Create time, reduce errors and scale your profits with proven  business systems See more

SYSTEMology: Create time, reduce errors and scale your profits with proven business systems See more


PanSIG 2022 Journal Galley 6.9.23.indb

PanSIG 2022 Journal Galley 6.9.23.indb


Error Analysis | McGraw-Hill Education - Access Engineering

Error Analysis | McGraw-Hill Education - Access Engineering


Error control systems for digital communication and storage

Error control systems for digital communication and storage


人文・社会 科学

人文・社会 科学


Enabling Continuous Testing of HPC Systems Using ReFrame

Enabling Continuous Testing of HPC Systems Using ReFrame


Systems Failure Analysis - ASM International

Systems Failure Analysis - ASM International


Testing of Digital Systems

Testing of Digital Systems


Search records | 東京工業大学附属図書館 蔵書検索

Search records | 東京工業大学附属図書館 蔵書検索


How to Do Systems Analysis: Primer and Casebook by John E. Gibson

How to Do Systems Analysis: Primer and Casebook by John E. Gibson


Computer Science Technical Report

Computer Science Technical Report


Buy now!

Buy now!


R&S®TS8997 Regulatory Test System for Wireless Devices

R&S®TS8997 Regulatory Test System for Wireless Devices


Amazon.co.jp: Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design

Amazon.co.jp: Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design


Reliable assessment of uncertainty for appliance recognition in

Reliable assessment of uncertainty for appliance recognition in





もっと見る

商品の情報

カテゴリー
配送料の負担
送料込み(出品者負担)
配送の方法
ゆうゆうメルカリ便
郵便局/コンビニ受取匿名配送
発送元の地域
宮城県
発送までの日数
1~2日で発送

メルカリ安心への取り組み

お金は事務局に支払われ、評価後に振り込まれます

出品者

スピード発送

この出品者は平均24時間以内に発送しています

洋書 Springer Paperback Soft Errors in Modern Electronic Systems (Frontiers in Electronic Testing)

この商品を見ている人におすすめ